推動探針顯微鏡發(fā)展的納米技術
光學顯微鏡，解析度受到波長影響，因為可見光范圍350-700 nm，人的眼睛可以看到的極限大概是毫米(mm)，到了微米尺寸 譬如細胞就必須借助顯微鏡。但是光學顯微鏡對納米世界就顯
得無能為力
所以納米技術推動新的顯微鏡技術開始蓬勃發(fā)展，

像較近發(fā)展迅速發(fā)展的電子顯微鏡技術(Electron microscope)，利用電子來代替光線觀察物品。還有一種是機械式顯微鏡，利用探針在物品表面掃描移動，探針和物體表面的交互作用變化來「描述」物體表面，稱為掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope)。
常見的掃描探針顯微鏡有：原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)和掃描穿隧顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope, STM)。

    什么事原子力顯微鏡：由Binnig等人於1986年所發(fā)明的原子力顯微鏡，其以原子力場作回饋，主要原理系藉由針尖與待測物體表面的原子作用力，使懸臂梁產(chǎn)生微細位移，以測得待測物體表面結(jié)構，對導體及絕緣體均有三維空間原子級解像能力，可應用於多種材料表面檢測，并能在真空、氣體或液體環(huán)境中操作。
當原子與原子很接近時，彼此電子云斥力的作用大於原子核與電子云之間的吸引力作用，利用此原子斥力的變化而產(chǎn)生表面結(jié)構為接觸式原子力顯微鏡(contact AFM)，探針與試片的距離約數(shù)個  ；反之若兩原子分開有一定距離時，其電子云斥力的作用小於彼此原子核與電子云之間的吸引力作用，利用此原子引力的變化而產(chǎn)生表面結(jié)構為非接觸式原子力顯微鏡(non-contact AFM)，探針與試片的距離約數(shù)十到數(shù)百 ；亦可將兩者改良為間歇接觸式（或稱為輕敲式( intermittent contact or tapping)原子力顯微鏡(tapping AFM)）。IBM科學家利用原子力顯微鏡(AFM)取得單個分子的3D影像。這項技術能像X光機穿透肌肉拍攝骨骼影像般，看透電子云并觀察到分子的「原子骨干」，并讓科學家建構出直徑只有1.4 nm的有機分子五苯(pentacene)的「力圖」(force map)。AFM技術讓我們「看」到了原子。

     什么是掃描穿隧顯微鏡，它是一種利用量子力學的穿隧效應探測物質(zhì)表面結(jié)構的顯微鏡，藉由一支鎢金屬探針，探針針尖和物質(zhì)表面通電形成穿隧電流，由於穿隧電流大小嚴重受物質(zhì)表面高低影響，如果要保持穿隧電流的穩(wěn)定，針尖必須緊貼著物質(zhì)表面隨其高低起伏，依此得到物體表面的「地形圖」；或是保持針尖的位置，紀錄穿隧電流的變化，都可以得到物體表面的影像。