不同晶體碎屑與浸油折射率樣品分析顯微鏡
用斜照法無需用高倍物鏡，在低倍鏡下視域范圍較廣，可同時比
較多粒碎屑甚至不同晶體碎屑與浸油折射率的高低，但斜照法不能精
確測定晶體的折射率，只有在二者折射率相差較大時可較快地判別兩
者折射率的相對大小。
浸油的相對折射率
直照法又稱為貝克線法。在單偏光下兩介質交界處將形成貝克線
，根據升降顯微鏡鏡筒時貝克線的移動情況即可判別兩介質相對折射
率高低，故稱直照法。
多維缺陷
堆積缺陷、晶界和相界屬于多維晶格缺陷。作為晶體堆積紛亂的堆
積缺陷，顯而易見，一般是與層錯共存的。當然，堆積缺陷妨礙了位
錯的移動。SiC特別會在大范圍內出現堆積缺陷，并導致形成多種聚合
形式。晶界分為小角度晶界和大角度晶界。前者就是由規律性的階梯
位錯和螺旋位錯組成的平
色散法的原理
色散法全稱為貝克線色散法，是直照法的延伸和發展。在晶體與
浸油的折射率相差小于o．01并用白光照射時，兩者交界處的貝克線由
于固態物質和液態物質具有不同色散率將色散，分為互相平行的天藍
色帶和橙黃色帶(這兩種顏色是貝克線色散的敏感色)。一般固態物質
色散率比液態物質小，因此晶體的色散率曲線較平緩，浸油的色散率
曲線就比較陡，當二者對某單色光折射率相等時，兩條曲線就相交于
折射率相等處。晶體折射率通常是以黃色光折射率為準的，有下列三
種情況。
